基本介绍

张广明，英国利物浦约翰莫里斯大学 （Liverpool John Moores University）工程学院副教授。 他于1999年在西安交通大学机械工程学院获得博士学位。1999年9月进入南京大学声学所博士后流动站工作。 2001年到2004年在瑞典Uppsala University 大学信号与系统研究组工作。2004年加入利物浦约翰莫里斯大学工作至今。

从1993年以来他一直从事超声无损检测方面的研究, 包括扫描声学显微镜、超声信号/图像处理和声学建模， 发表了 100 多篇学术论文。曾获国家教委科技进步奖三等奖二项，中国国家自然科学进步奖的海外评审专家，西安科技大学特聘教授、博导。自 2003 年以来，作为英国利物浦约翰莫里斯大学 电子与超声工程 (EUE) 研究小组的创始成员，一直致力于 微电子芯片可靠性的微纳无损检测与评价方面的研究，研究项目获得英国EPSRC基金，英国牛顿基金，欧盟基金以及中国自然科学基金的资助，研究成果获得学术和工业界的广泛认可。当前的主要研究兴趣包括：绿色电子，微电子芯片的可靠性微纳无损评价，Prognostics and Health Monitoring of Electronics System, 三维声显微成像，基于AI 和声显微成像的微电子芯片失效分析与建模，以及微电子芯片的寿命预测。